Đo kích thước của băng mang dập nổi cho tụ điện bằng kính hiển vi laser Olympus

Băng mang dập nổi được sử dụng để đóng gói các linh kiện điện tử nhỏ khác nhau được sử dụng trong điện thoại di động và thiết bị chính xác. Trong quá trình dập nổi, hốc (túi) được định hình trên bề mặt của một tờ giấy mỏng hoặc băng nhựa. Các thành phần sau đó được đặt riêng lẻ vào hàng trăm hoặc thậm chí hàng triệu túi, niêm phong bằng băng keo, và sau đó quấn vào một cuộn. Các thành phần được đóng gói trên cuộn được lắp đặt vào một bộ gắn bề mặt để gắn các thành phần chứa trong túi băng vào một chất nền. Ưu điểm của hệ thống này là các bộ phận nhỏ, chẳng hạn như tụ gốm siêu nhỏ, chip mạch tích hợp (IC) và đầu nối, có thể được vận chuyển với số lượng lớn mà không bị hỏng. Ngoài ra, tốc độ lắp bằng băng keo nhanh hơn các phương pháp cũ, chẳng hạn như sử dụng khay cứng. Quản lý kích thước của túi là rất quan trọng để ngăn các thành phần kín quay trong túi và giúp đảm bảo chúng ra ngoài trơn tru khi mở gói. Là thiết bị trở nên nhỏ hơn, các thành phần cũng trở nên nhỏ hơn và cần có độ chính xác cao hơn để đo kích thước của túi.

2. Giải pháp Olympus – Evident

Kính hiển vi laser quét 3D LEXT của Olympus sử dụng laser bán dẫn 405 nm và hệ thống quang học đồng tiêu để thu ánh sáng phản xạ tập trung. Kính hiển vi cũng có thể kết hợp nhiều hình ảnh được chụp ở các mức Z khác nhau để tạo ra hình ảnh rõ ràng, độ phân giải cao và hiển thị hình dạng 3D chính xác, ngay cả đối với các đối tượng có chiều sâu, chẳng hạn như túi trên băng mang. Tính năng ghép của kính hiển vi giúp dễ dàng kết hợp nhiều hình ảnh, cho phép bạn nhanh chóng và dễ dàng chụp một hình dạng với trường nhìn rộng mà vẫn duy trì độ phân giải cao.

Hình ảnh

(1) Hình dạng 3D của túi băng mang

Băng mang cho capacitor_ob10×_3D Băng mang cho capacitor_ob10×_3D

(2) Phép đo hồ sơ của túi băng mang
 

 

Băng mang cho capacitor_ob10×
Băng mang cho capacitor_ob10×_profile

Sản phẩm được sử dụng cho ứng dụng này

Kính hiển vi quét laser LEXT™ OLS5100 kết hợp độ chính xác vượt trội và hiệu suất quang học với các công cụ thông minh giúp hệ thống dễ sử dụng. Các nhiệm vụ đo chính xác hình dạng và độ nhám bề mặt ở cấp độ submicron rất nhanh chóng và hiệu quả, đơn giản hóa quy trình làm việc của bạn và cung cấp dữ liệu chất lượng cao mà bạn có thể tin tưởng.

64 / 100

Để lại một bình luận

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *